The object of research, development or design (in Russian) : Объекты исследования -Линзово-зеркальные системы, обеспечивающие высокое качество фокусировки при учете аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов и выполняющих роль зеркального объектива электростатического электронного микроскопа или корректора аберраций объектива высоковольтного электронного микроскопа.

The object of research, development or design (in Kazakh) : Жоғары ретті аберрацияларды, релятивистік және дифракциялық әсерлерді есепке алғанда жоғары сапалы фокустауды қамтамасыз ететін және электростатикалық электрондық микроскоптың айналық объективі немесе жоғары вольтты электрондық микроскоптың аберрациялық корректоры қызметін атқаратын линза-айналық жүйелер.

Aim of work (in Russian) : Цель проекта - изучение теоретических возможностей дальнейшего повышения разрешающей способности электронных микроскопов путем учета и минимизации совместного влияния аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов на качество фокусировки электронных пучков в линзово-зеркальных корректорах аберраций.

Aim of work (in Kazakh) : Жобаның мақсаты - жоғары ретті аберрациялардың, релятивистік және дифракциялық әсерлердің линза-айналық аберрация корректорларының электрондық сәулелерді фокустау сапасына біріккен әсерін есепке алу және азайту арқылы электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін одан әрі арттырудың теориялық мүмкіндіктерін зерттеу.

Методы исследования (на русском) : Метод центральной частицы, метод Винера-Хопфа, метод параметризации точных уравнений электронных траекторий

Методы исследования (на казахском) : Орталық бөлшек әдісі, Винер-Хопф әдісі, электрондар траекторияларының дәл теңдеулерін параметрлеу әдісі

Obtained results and novelty (in Russian) : 1. Новый метод расчета аберраций высших порядков с учетом релятивистских эффектов в электростатическом зеркале, Этот метод, полученный путем обобщения метода параметризации точных уравнений электронных траекторий, разработанного нами ранее для нерелятивистских электронных пучков, существенно прост по сравнению с обычным методом разработки теории аберраций высших порядков. Новизна метода состоит в том, что позволяет непосредственный расчет качества фокусировки по точным уравнениям траекторий, в котором общее решение точного уравнения представлено как сумма решений параксиального уравнения и уравнений остатка, определяющих качество фокусировки. 2. Точное решение методом Винера-Хопфа задачи о распределении поля в электростатическом зеркале с электродами реальной конструкции. Новизной полученных результатов является возможность экранировки пучка от рассеянных электрических полей при широких щелях между электрододами зеркала, необходимых для обеспечения электрической прочности при высоких напряженностях поля.

Obtained results and novelty (in Kazakh) : 1. Электростатикалық айнадағы релятивистік әсерлерді ескере отырып, жоғары ретті аберрацияларды есептеудің жаңа әдісі. Бұл әдіс - релятивистік емес электрондық сәулелер үшін біз бұрын әзірлеген электрондық траекториялардың дәл теңдеулерін параметрлеу әдісін жалпылау арқылы алынған және жоғары ретті аберрациялар теориясын жасаудың әдеттегі әдісімен салыстырғанда анағұрлым қарапайым. Әдістің жаңалығы оның траекториялардың дәл теңдеулерінен фокустау сапасын тікелей есептеуге мүмкіндік беретіндігінде, онда дәл теңдеудің жалпы шешімі параксиалдық теңдеу мен фокустау сапасын анықтайтын қалдық теңдеулердің шешімдерінің қосындысы ретінде берілген. 2. Нақты конструкциялы электродтары бар электростатикалық айнадағы өрістің бөліну есебінің Винер-Хопф әдісі бойынша дәл шешімі. Алынған нәтижелердің жаңалығы - өрістің жоғары кернеулігінде электрлік беріктікті қамтамасыз ету үшін айна электродтары арасындағы саңылаулар кең болғанда электр өрістерінің шашыраңқы әсерлерінен қорғау мүмкіндігі.

The main constructive and technical economic indicators (in Russian) : Реализация теоретических возможностей высокого качества фокусировки в линзово-зеркальных системах с реальной конструкцией электродов, обеспечивающих электрическую прочность при высоких напряженностях поля, присущих высоковольтной электронной микроскопии.

The main constructive and technical economic indicators (in Kazakh) : Жоғары вольтты электрондық микроскопияға тән жоғары өріс кернеулігінде электрлік беріктікті қамтамасыз ететін электродтардың нақты конструкциясы бар линза-айналық жүйелерде жоғары сапалы фокустаудың теориялық мүмкіндіктерін жүзеге асыру.

Level of implementation (in Russian) :

Level of implementation (in Kazakh) :

Efficiency (in Russian) :

Efficiency (in Kazakh) :

Field of application (in Russian) : Научное приборостроение, электронная микроскопия и области современной науки, связанные с электронной микроскопией: медицина, биология, металлургия и др.

Field of application (in Kazakh) : Ғылыми аппаратура, электронды микроскопия және электронды микроскопияға байланысты қазіргі ғылымның салалары: медицина, биология, металлургия және т.б.