Inventory number IRN Number of state registration
0322РК00042 AP09058081-KC-22 0121РК00043
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Краткие сведения Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 1
International publications: 1 Publications Web of science: 1 Publications Scopus: 1
Patents Amount of funding Code of the program
0 17842285 AP09058081
Name of work
Радиационная стойкость диэлектрических наночастиц в дисперсно-упрочненных оксидами сплавах к воздействию тяжелых ионов с энергиями осколков деления.
Type of work Source of funding Report authors
Fundamental Ибраева Анель Динмухамедовна
0
0
2
1
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МЭ РК
Full name of the service recipient
Республиканское государственное предприятие на праве хозяйственного ведения "Институт ядерной физики" Министерства энергетики Республики Казахстан
Abbreviated name of the service recipient ИЯФ
Abstract

нанокристаллические керамики на основе оксидов и карбидов, перспективные для радиационного материаловедения.

радиациялық материалтану үшін перспективалы оксидтер мен карбидтерге негізделген нанокристалдық керамикалар

теоретическое и экспериментальное исследование радиационной стойкости наночастиц оксидов и карбидов в дисперсно-упрочненных оксидами сплавах к облучению тяжелыми ионами высоких энергий в зависимости от уровня электронного торможения, флюенса ионов и температуры облучения.

электрондық тежелу деңгейіне, иондардың флюенсіне және сәулелену температурасына байланысты жоғары энергиялы ауыр иондармен сәулеленуге оксидтермен дисперсті-беріктендірілген (ОДБ) қорытпалардағы оксидтер мен карбидтер нанобөлшектерінің радиациялық тұрақтылығын теориялық және эксперименттік зерттеу.

просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), рентгеновская дифрактометрия (РСД) и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, (РФЭС) спектроскопия комбинационного рассеяния (Раман-спектроскопия).

жарық түсіретін электрондық микроскопия (ЖТЭМ), сканерлеуші электрондық микроскопия (СЭМ), рентген құрылымдық дифрактометрия (РҚД) және рентгендік фотоэлектрондық спектроскопия (РФЭС), комбинациялық шашырау спектроскопиясы (Раман-спектроскопия).

образцы на основе нанокристаллических оксидов CeO2, TiO2, Y2O3, Y2Ti2O7, Y4Al2O9, MgAl2O4, Cr2O3 были подготовлены и облучены ионами криптона (107 МэВ), ксенона (148 МэВ, 230 МэВ) и висмута (670 и 714 МэВ) при комнатной температуре в режимах одиночных и многократно перекрывающихся треков. Получены их спектры комбинационного рассеяния и ПЭМ снимки латентных треков. Изучены параметры и морфология треков в CeO2, TiO2, Y2Ti2O7, Y4Al2O9. На основе полученных данных были определены пороговые уровни ионизационных потерь для образования треков и аморфизации Y-Ti-O и Y-Al-O. Проведены оценка применимости модели неупругого термического пика для описания процесса дефектообразования в оксидах Y-Ti-O и Y-Al-O и моделирование повреждений решетки в Y2O3 и Y2Ti2O7 методом молекулярной динамики. Определены параметры возбуждения электронной и ионной подсистем Y2O3 и Y2Ti2O7, используя которые была определена структура индивидуальных треков и порог их образования в массивных образцах Y2Ti2O7. Подобные результаты получены впервые в мире. Также нанокристаллические образцы были подготовлены и облучены ионами высоких энергий при различных температурах (80 К и 1000 К). Начаты работы по изучению в них радиационно-индуцированных микроструктурных и морфологических особенностей. Работы по Проекту продолжаются согласно календарному плану.

нанокристалды CeO2, TiO2, Y2O3, Y2Ti2O7, Y4Al2O9, MgAl2O4, Cr2O3 оксидтері негізіндегі үлгілер дайындалды және бөлме температурасында криптон (107 МэВ), ксенон (148 МэВ, 230 МэВ) және висмут (670 және 714 МэВ) иондарымен жеке тректер және тректердің көп реттік қабаттасу режимінде сәулеленді. Олардың комбинациялық шашырау спектрлері және жасырын тректердің ЖТЭМ суреттері алынды. CeO2, TiO2, Y2Ti2O7, Y4Al2O9 үлгілерінде тректердің параметрлері мен морфологиясы зерттелді. Алынған мәліметтер негізінде Y-Ti-O және Y-Аl-O үлгілерінде тректердің қалыптастыруы және аморфизациялануы үшін ионизациялық шығындарының шекті деңгейлері анықталды. Y-Ti-O және Y-Аl-O оксидтеріндегі ақаудың пайда болу процесін сипаттау үшін серпімсіз термиялық шың моделінің қолданылуын бағалау және Y2O3 және Y2Ti2O7-дегі тордың зақымдануын молекулалық динамика әдіспен модельдеу жүргізілді. Y2O3 және Y2Ti2O7 электрондық және иондық жүйешелерінің қозу параметрлері анықталды, олардың көмегімен Y2Ti2O7 массивтік үлгілерінде жеке тректердің құрылымы мен олардың пайда болу шегі анықталды. Мұндай нәтижелер әлемде алғаш рет алынды. Сондай-ақ, нанокристалды үлгілер дайындалып, әртүрлі температурада (80 К және 1000 К) жоғары энергиялы иондармен сәулеленді. Олардағы радиациялық микроқұрылымдық және морфологиялық ерекшеліктерін зерттеу жұмыстары басталды. Жоба бойынша жұмыстар күнтізбелік жоспарға сәйкес жалғасуда.

результаты, полученные в проекте, расширят знания о механизмах дефектообразования в изолированных наночастицах и наночастицах, внедренных в металлические матрицы (ДУО сталях), перспективных для использования в качестве оболочек ТВЭЛов, контактирующих с ядерным топливом. Также они позволят оценить пороговые условия образования дефектов при облучении БТИ и прогнозировать их поведение в радиационных условиях. Настоящая работа в целом направлена на повышение безопасности и эффективности применения реакторов и, как следствие, к снижению стоимости электроэнергии, вырабатываемой АЭС, что на протяжении многих лет является актуальной задачей для Республики Казахстан.

жобада алынған нәтижелер ядролық отынмен жанасатын ЖБЭ қабықшалары ретінде пайдалануға болатын оқшауланған нанобөлшектер мен перспективалы металл матрицаларға (ОДБ болаттар) енгізілген нанобөлшектердегі ақау түзілу механизмдері туралы білімді кеңейтеді. Сондай-ақ, олар ЖАИ сәулелену кезінде ақаулардың пайда болуының шекті жағдайларын бағалауға және олардың радиациялық жағдайлардағы мінез-құлқын болжауға мүмкіндік береді. Бұл жұмыс тұтастай алғанда реакторларды қолданудың қауіпсіздігі мен тиімділігін арттыруға және соның салдарынан АЭС өндіретін электр энергиясының құнын төмендетуге бағытталған, бұл көптеген жылдар бойы Қазақстан Республикасы үшін маңызды міндет болып табылады.

исследуемая область материаловедения является интенсивно развивающейся и перспективной, а тема исследования новой и актуальной, и поэтому следует ожидать интерес к результатам Проекта со стороны научного сообщества, общественности и потенциальных пользователей.

зерттелетін материалтану саласы қарқынды дамып келе жатыр және перспективалы болып табылады, ал зерттеу тақырыбы жаңа және өзекті, сондықтан ғылыми қоғамдастық, қоғам және әлеуетті пайдаланушылар жобаның нәтижелеріне қызығушылық тууы күтілу керек.

данные, полученные в ходе проекта, позволят в значительной расширить представления о радиационной стойкости нанокерамик и ДУО-сталей, способствующее повышению экономичности, надежности и безопасности реакторов нового поколения. Теоретические и практические результаты могут быть полезными для дальнейших исследований материалов с подобными структурами и внесут вклад в развитие фундаментального радиационного материаловедения.

жоба барысында алынған деректер нанокерамика мен ОДБ-болаттардың радиациялық төзімділігі туралы мәліметтерді едәуір кеңейтуге мүмкіндік береді, бұл жаңа буын реакторларының үнемділігін, сенімділігі мен қауіпсіздігін арттыруға ықпал етеді. Теориялық және практикалық нәтижелер ұқсас құрылымдары бар материалдарды одан әрі зерттеу үшін пайдалы болуы мүмкін және іргелі радиациялық материалтану ғылымының дамуына ықпал етеді.

материаловедение, микроскопия, ядерная энергетика

материалтану, микроскопия, ядролық энергетика.

UDC indices
537.9; 539.1.06
International classifier codes
29.19.21;
Key words in Russian
реакторное материаловедение; дисперсно-упрочненные оксидами (ДУО) сплавы; наночастицы; осколки деления; радиационные повреждения; моделирование; просвечивающая электронная микроскопия;
Key words in Kazakh
реакторлық материалтану; оксидтермен дисперсті-беріктендірілген (ОДБ) қорытпалар; нанобөлшектер; бөлу жарықшақтар; радиациялық ақаулар; модельдеу; жарық түсіретін электрондық микроскопия;
Head of the organization Каракозов Батыржан Кумекбаевич кандидат технических наук / нет
Head of work Ибраева Анель Динмухамедовна PhD in Physics / нет