Inventory number | IRN | Number of state registration |
---|---|---|
0220РК01425 | AP05132483-OT-20 | 0118РК00576 |
Document type | Terms of distribution | Availability of implementation |
Заключительный | Gratis | Number of implementation: 0 Not implemented |
Publications | ||
Native publications: 0 | ||
International publications: 1 | Publications Web of science: 1 | Publications Scopus: 1 |
Number of books | Appendicies | Sources |
0 | 3 | 36 |
Total number of pages | Patents | Illustrations |
86 | 2 | 11 |
Amount of funding | Code of the program | Table |
10000000 | AP05132483 | 6 |
Name of work | ||
Исследование влияния релятивистских эффектов на качество пространственной и времяпролетной фокусировки электронных пучков в электростатических зеркалах и эмиссионных системах | ||
Report title | ||
Type of work | Source of funding | The product offerred for implementation |
Fundamental | Метод, способ | |
Report authors | ||
Бимурзаев Сеиткерим Бимурзаевич , Страутман Лидия , Саутбекова Зерде , Алдияров Нахыпбек Уалиевич , Якушев Евгений Михайлович , Омаров Токтар Тауович , | ||
0
0
1
0
|
||
Customer | МНВО РК | |
Information on the executing organization | ||
Short name of the ministry (establishment) | МЦРОАП РК | |
Full name of the service recipient | ||
Некоммерческое акционерное общество "Алматинский университет энергетики и связи имени Гумарбека Даукеева" | ||
Abbreviated name of the service recipient | НАО АУЭС имени Гумарбека Даукеева | |
Abstract | ||
Объектом исследования являются электростатические электронные зеркала и эмиссионные системы. Зерттеу нысаны - электростатикалық электрондық айналар және эмиссиялық жүйелер. Целью данного проекта является определение новых возможностей повышения разрешающей способности и чувствительности электронных микроскопов и времяпролетных масс-спектрометров путем создания теории пространственных и времяпролетных аберраций электростатических зеркал и эмиссионных систем с учетом релятивистских эффектов и проведения численных расчетов электростатических зеркал и эмиссионных систем для определения их условий пространственной и времяпролетной фокусировки на основе созданной теории. Жобаның мақсаты - релятивистік әсерлерді ескере отырып электростатикалық айналар мен эмиссиялық жүйелердің кеңістіктік және ұшу-уақыттық аберрация теориясын құру арқылы электростатикалық айналар мен эмиссиялық жүйелердің кеңістіктік және ұшу-уақыттық фокустау қасиеттерін зерттеу арқылы электрондық микроскоптар мен ұшу-уақыттық масс-спектрометрлердің ажырату қабілеті мен сезімталдығын жоғарылатудың жаңа мүмкіндіктерін анықтау. Метод центральной частицы Орталық бөлшек әдісі На основе созданной теории путем численных расчетов найдены условия времяпролетной фокусировки по энергии частиц до третьего порядка включительно в электростатических зеркалах вращательной, двумерной и трансаксиальной симметрий для разных режимов их работы. Путем численных расчетов определены условия времяпролетной фокусировки до четвертого порядка в четырехэлектродных эмиссионных системах с двумерным неоднородным электростатическим полем. В рамках выполнения работ по Проекту создана теория пространственных и времяпролетных аберраций электростатических зеркал и эмиссионных систем с учетом релятивистских эффектов. Жобалық жұмыс шеңберінде релятивистік әсерлерді ескере отырып электростатикалық айналар мен эмиссиялық жүйелердің кеңістіктік және ұшу-уақыттық аберрация теориясы жасалды. Жасалған теория негізінде сандық есептеулер арқылы айналымдық, екі өлшемдік және трансаксиалдық симметриялы айналардың үшінші ретті қоса алғанда энергия бойынша ұшу-уақыттық фокустау шарттары табылған. Екі өлшемдік электростатикалық өрісі біртектес емес төрт электродты эмиссиялық жүйелердің төртінші ретті ұшу-уақыттық фокустау шарттары сандық есептеулермен анықталды. Результаты этих исследований использованы при разработке новых схем времяпролетных масс-спектрометров и корректора аберраций для высоковольтного электронного микроскопа. Осы зерттеулер нәтижелері ұшу-уақыттық масс-спектрометрлерінің жаңа схемаларын және жоғары вольтты электрондық микроскоптың аберрация түзеткішін құру үшін қолданылды.
Повышение разрешающей способности и чувствительности электронных микроскопов и время-пролетных масс-спектрометров при учете релятивистских эффектов Релятивистік әсерлерді ескере отырып электрондық микроскоптар және ұшу-уақыттық масс-спектрометрлердің ажырату кабілеті мен сезімталдығын көтеру Физическая электроника, научное приборостроение, технологии создания новых электронных микроскопов и времяпролетных масс-спектрометров. Физикалық электроника, ғылыми аспап жасау, жаңа электрондық микроскоптар және ұшу-уақыттық масспектрометрлер жасау технологиясы. |
||
UDC indices | ||
537.533.33 | ||
International classifier codes | ||
29.35.39; | ||
Readiness of the development for implementation | ||
Key words in Russian | ||
электронный микроскоп; электростатическое зеркало; эмиссионные системы; пространственные фокусировки; корректорные аберрационные электронные линзы; | ||
Key words in Kazakh | ||
электрондық микроскоп; электростатикалық айна; эмиссиялық жүйе; кеңістіктік фокустау; электрондық линза аберрациясын түзеткіш; | ||
Head of the organization | Коньшин Сергей Владимирович | Кандидат технических наук / Профессор АУЭС |
Head of work | Бимурзаев Сеиткерим Бимурзаевич | Доктор физико-математических наук / professor, PR №0000119, 22.07.2024 |
Native executive in charge |