Inventory number | IRN | Number of state registration |
---|---|---|
0220РК01308 | AP05130212-OT-20 | 0118РК00993 |
Document type | Terms of distribution | Availability of implementation |
Заключительный | Gratis | Number of implementation: 0 Not implemented |
Publications | ||
Native publications: 2 | ||
International publications: 1 | Publications Web of science: 0 | Publications Scopus: 0 |
Number of books | Appendicies | Sources |
1 | 3 | 66 |
Total number of pages | Patents | Illustrations |
67 | 0 | 19 |
Amount of funding | Code of the program | Table |
8088000 | AP05130212 | 3 |
Name of work | ||
Формирование структуры и моделирование параметров аморфных и кристаллических пленок SiCx, выращенных физическими и химическими методами для солнечной технологии и наноэлектроники. | ||
Report title | ||
Type of work | Source of funding | The product offerred for implementation |
Fundamental | Материалы | |
Report authors | ||
Бейсенханов Нуржан Бейсенханович , Нусупов Каир Хамзаевич , Султанов Асанали Талгатбекулы , Кривошеев Василий Васильевич , Шыныбаев Дархан Серикович , Капасова Мейраш Советкановна , | ||
0
1
0
0
|
||
Customer | МНВО РК | |
Information on the executing organization | ||
Short name of the ministry (establishment) | МНВО РК | |
Full name of the service recipient | ||
АО «Казахстанско-Британский технический университет» | ||
Abbreviated name of the service recipient | АО "КБТУ" | |
Abstract | ||
эпитаксиальные и нанокристаллические слои SiCх SiCx эпитаксиалды және нанокристалды қабаттары Формирование структуры и моделирование параметров аморфных и кристаллических пленок SiC, синтезированных физическими и химическими методами Физикалық және химиялық әдістермен өсірілген аморфты және кристалдық SiC қабыршақтардың құрылымын қалыптастыру, параметрлерін модельдеу ИК-спектроскопия, рентгеновская рефлектометрия, рентгеновская дифракция Инфрақызыл спектроскопия, рентгендiк рефлектометрия, рентгендік дифракция Установлено, что отличием структуры пленки SiC, осажденной методом магнетронного распыления на поверхность монокристаллического слоя SiC, от пленки SiC, осажденной на поверхность монокристаллического c-Si, является формирование зародышей нанокристаллов, дилатационных диполей и кластеров с укороченными Si-C связями (890-965 см-1), вместо Si–C-связей аморфной фазы (600-792 см-1). Выявлено, что среди антиотражающих покрытий SiC/MgF2, SiC/ZnO/MgF2, ZnS/MgF2 и TiO2/SiO2 наиболее эффективной является структура SiC(50 nm) + MgF2(110 nm) ввиду низкого отражения в области 360–485 нм и большой плотности тока. Новизна: Отличием синтеза пленок SiC методом замещения атомов при температуре 1350°C в атмосфере газа СО (0,8 Па, 20 мин) является формирование нанокристаллов β-SiC, 6Н-SiC, 15R-SiC, тридимита SiO2, монокристаллических слоев β-SiC и 6Н-SiC монокристаллических слоев β-SiC, 6Н-SiC, микрокристаллитов β-SiC, 6Н-SiC и SiO2. После осаждения на поверхность пленки слоя SiCx методом магнетронного распыления (13,56 МГц, 150 Вт, 10800 сек, Ar – 2,4 л/ч, 100°С) происходит увеличение объема монокристаллических фаз β-SiC и 6Н-SiC. Монокристалды SiC қабатының бетіне магнетронды шашырату арқылы түскен SiC қабыршағы мен монокристалды с-Si бетіне түскен SiC қабыршағының құрылымдарының арасындағы айырмашылығы нанокристалл өзектерінің, дилатациялық дипольдарының және қысқарған Si-C байланыстары бар (890-965 см-1) кластерлердің қалыптасуы анықталды. Бұлар аморфты фазаның орнына (600-792 см-1) қалыптасады. SiC/MgF2, SiC/ZnO/MgF2, ZnS/MgF2, TiO2/SiO2 антишағылыс жабындардың арасында ең тиімдісі SiC(50 нм) + MgF2(110 нм) құрылымы екені анықталды. Бұл 360-485 нм аралығында аз шағылысуымен және үлкен ток тығыздығының болуымен байланысты. Жаңалығы: CO газды атмосферасында 1350°C температурада атомды алмастыру әдісімен (0,8 Па, 20 мин) SiC қабыршақтарын синтездеудің айырмашылығы β-SiC, 6H-SiC, 15R-SiC, тридимит SiO2 нанокристалдардың, β-SiC және 6H монокристалды қабаттардың және β-SiC, 6H-SiC, SiO2 микрокристаллиттердің қалыптасуымен болып табылады. Магнетронды шашырату арқылы қабыршақтын бетіне SiCx қабатын орналастырғаннан кейін (13,56 МГц, 150 Вт, 10800 сек, Ar - 2,4 л/сағ, 100°С), β-SiC және 6H-SiC монокристалл фазаларының көлемі артады. Пленки SiC, обладающие высокой твердостью и радиационной стойкостью, широкой запрещенной зоной будут использованы в качестве антиотражающего слоя, а также диффузионного барьера в контактной системе при создании солнечных элементов собственного производства в лаборатории. Электрические нагреватели для электропечи, созданной для синтеза карбидокремниевых и алмазоподобных структур, были применены для формирования контактной системы солнечных элементов, зародышеобразование и кристаллизация в которой идет аналогичным образом. Зертханада өз өндірісінің күн батареяларын құрған кезде қаттылығы жоғары, радиацияға төзімді және кең тыим салынган аймағымен SiC пленкалары, шағылысқа қарсы қабат ретінде қолданылады, сонымен қатар байланыс жүйесіндегі диффузиялық тосқауыл болады. Кремний карбиді мен алмас тәрізді құрылымдарды синтездеу үшін құрылған электр пешіне арналған электр жылытқыштар күн батареяларының түйіспелік жүйесін құру үшін пайдаланылды, онда ядролау және кристалдану ұқсас жолмен жүреді. Рекомендации по внедрению или итоги внедрения результатов НИР: рекомендуется использование SiCx в качестве твердых покрытий при изготовлении буров, в качестве антиотражающего слоя солнечных батарей и в наноэлектронике. SiCx қабыршақтарын бұрғылар жасауда қатты жабындар ретінде, күн элементтерінің шағылысқа қарсы қабаты ретінде, сонымен қатар наноэлектроникада қолдану ұсынылады. пленки SiCx увеличивают КПД солнечных элементов в 1,3 раза. SiCx қабыршақтары күн элементтерінің ПӘК-ін 1,3 есе арттырады. солнечная энергетика, наноэлектроника. күн энергиясы, наноэлектроника. |
||
UDC indices | ||
537.311:322 | ||
International classifier codes | ||
29.19.16; 29.19.22; | ||
Readiness of the development for implementation | ||
Key words in Russian | ||
Карбид кремния; жұқа қабыршақтар; құрылым; кристалдану; модельдеу; | ||
Key words in Kazakh | ||
Кремний карбиді; тонкие пленки; структура; кристаллизация; моделирование; | ||
Head of the organization | Габдуллин Маратбек Тулебергенович | к.ф.-м.н., PhD / профессор |
Head of work | Бейсенханов Нуржан Бейсенханович | Доктор физико-математических наук / Профессор |
Native executive in charge |