Inventory number IRN Number of state registration
0220РК01100 AP05133499-OT-20 0118РК01188
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Заключительный Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 4
International publications: 2 Publications Web of science: 0 Publications Scopus: 2
Number of books Appendicies Sources
1 2 27
Total number of pages Patents Illustrations
58 1 31
Amount of funding Code of the program Table
8000000 AP05133499 6
Name of work
Структура и электронные свойства наноразмерных пленок модифицированных металлом халькогенидных полупроводников с фазовой памятью в состояниях стекло-кристалл
Report title
Type of work Source of funding The product offerred for implementation
Fundamental Технология
Report authors
Приходько Олег Юрьевич , Козюхин Сергей , Максимова Суюмбика Якубовна , Богословский Никита , Исмайлова Гузаль Амитовна , Сагидолда Ерулан , Толепов Жандос Каирмаганбетович , Турманова Кундыз Нурлибековна , Жақыпов Әлібек Серікұлы , Абдыкалыкова Бибигуль ,
0
0
2
2
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МНВО РК
Full name of the service recipient
Дочернее государственное предприятие на праве хозяйственного ведения "Научно-исследовательский институт экспериментальной и теоретической физики" РГП на праве хозяйственного ведения "Казахский Национальный универститет им. Аль-Фараби" министерства образования и науки РК
Abbreviated name of the service recipient ДГП на ПХВ «НИИЭТФ»
Abstract

Аморфные и кристаллические наноразмерные пленки халькогенидного стеклообразного полупроводника состава Ge2Sb2Te5, модифицированного серебром (Ge2Sb2Te5) методом ионно-плазменного ВЧ сораспыления.

Зерттеу нысаны – Ионды-плазмалы ЖЖ қоса тозаңдату әдісімен алынған күміспен модификацияланған Ge2Sb2Te5 құрамды халькогенидті шынытәріздес жартылайөткізгіштердің аморфты және кристалды наноөлшемді қабықшалары.

Выявление фундаментальных физических закономерностей изменения структуры и электронных свойств в материале с фазовой памятью на основе наноразмерных пленок модифицированного халькогенидного полупроводника Ge2Sb2Te5 в результате фазового перехода «стекло-кристалл».

Зерттеулер мақсаты – «Шыны-кристалл» фазалық ауысу нәтижесінде модификацияланған халькогенидті жартылай өткізгіш Ge2Sb2Te5 наноөлшемді қабықшалары негізінде фазалық жады бар материалдағы құрылым мен электронды қасиеттердің өзгеруінің негізгі физикалық заңдылықтарын анықтау.

EDX, СЭМ, ПЭМВР, КРС, оптические и электрические методы исследования.

Зерттеу әдістері – EDX, СЭМ, ЖРТЭМ, ЖКШ, оптикалық және электрлік зерттеу әдістері.

Новизна исследований – заключается в проведении комплексного исследования структуры пленок Ge2Sb2Te5, полученных методом ионно-плазменного магнетронного ВЧ сораспыления, и выявлении влияния размерного эффекта на электронные свойства аморфных и кристаллических пленок Ge2Sb2Te5. Краткое описание конечного результата – Показано, что для получения ячеек памяти на основе наноразмерных пленок Ge2Sb2Te5 с оптимальными параметрами метод примесной модификации имеет большие перспективы. Изменяя концентрацию модифицирующей примеси и толщину наноразмерных пленок Ge2Sb2Te5

Зерттеу жаңалығы – ионды-плазмалық магнетронды ЖЖ тозаңдату арқылы алынған Ge2Sb2Te5 қабықшаларының құрылымын кешенді зерттеу мен аморфты және кристалды Ge2Sb2Te5 қабықшалардың электронды қасиеттеріне өлшемдік эффектінің әсерін анықтаудан тұрады. Соңғы нәтижелердің қысқаша сипаттамасы – Қоспамен модификациялау тәсілі оңтайлы параметрлері бар Ge2Sb2Te5 наноөлшемді қабықшалары негізінде жады ұяшықтарын алудың үлкен болашағы бар екендігі көрсетілген. Модификациялайтын қоспаның концентрациясы мен Ge2Sb2Te5 наноөлшемді қабықшаларының қалыңдығын өзгерту арқылы фазалық ауысу температурасын, кристалдану уақытын, оптикалық сәулеленудің ену тереңдігін және электронды параметрлерді, яғни ауысу эффектінің параметрлері мен сипаттамаларын анықтайтын материалдың физикалық параметрлерін тиімді басқаруға болады.

В проекте показано, что эффективным методом для получения ячеек памяти на основе модифицированных пленок ХСП с заданными является метод ВЧ сораспыления.

Жобада көрсетілгендей, ЖЖ тозаңдату әдісі көрсетілген параметрлермен модификацияланған ХШЖ қабаттары негізінде жад ұяшықтарын алудың тиімді әдісі болып табылады.

Получен Евразийский патент «Способ получения аморфных пленок халькогенидных стеклообразных полупроводников».

«Халкогенидті шынытәріздес жартылай өткізгіштердің аморфты қабықшаларын алу әдісі» Еуразиялық патент алынды.

Эффективность - для получения наноразмерных ячеек пямяти с спользованием технологии ВЧ сораспыления требуется минимальное количество исходного GST

Тиімділік - жиіліктегі ЖЖ тозаңдату технологиясын қолданып, наноөлшемді жад ұяшықтарын алу үшін бастапқы GST минималды мөлшері қажет

Электрическая и оптическая запись информации, цифровые технологии.

Қолданылу аймағы – ақпаратты электрлік және оптикалық жазу, сандық технологиялар.

UDC indices
537.311.322
International classifier codes
29.19.31;
Readiness of the development for implementation
Key words in Russian
Наноразмерные пленки халькогенидного полупроводника; примесная модификация; эффект переключения; фазовая память; ионно-плазменное магнетронное распыления;
Key words in Kazakh
Халькогенидты жартылай өткізгіш наноөлшемді қабыршақтар; қоспалы модификация,; ауысу эффектісі; фазалы жады; ионды-плазмалы магнетронды тозаңдату;
Head of the organization Лаврищев О.Ю. к.ф.-м.н. /
Head of work Приходько Олег Юрьевич д.ф.-м.н. / профессор
Native executive in charge