Inventory number | IRN | Number of state registration |
---|---|---|
0220РК00624 | AP05134367-OT-20 | 0118РК00618 |
Document type | Terms of distribution | Availability of implementation |
Заключительный | Gratis | Number of implementation: 1 Implemented |
Publications | ||
Native publications: 2 | ||
International publications: 5 | Publications Web of science: 3 | Publications Scopus: 0 |
Number of books | Appendicies | Sources |
1 | 3 | 56 |
Total number of pages | Patents | Illustrations |
52 | 1 | 23 |
Amount of funding | Code of the program | Table |
7077000 | AP05134367 | 6 |
Code of the program's task under which the job is done | ||
217 | ||
Name of work | ||
Cинтез нанокристаллов в трековых темплэйтах SiO2/Si для сенсорных, нано - и оптоэлектронных применений | ||
Report title | ||
Type of work | Source of funding | The product offerred for implementation |
Applied | Материалы | |
Report authors | ||
Даулетбекова Алма Кабдиновна , Баймуханов Зейн Кайрбекович , Гиниятова Шолпан Гиниятовна , Усеинов Абай Бакытжанович , Акылбекова Айман Дуйсембаевна , Дауренбекова Рахима Кадырбековна , | ||
0
0
2
0
|
||
Customer | МНВО РК | |
Information on the executing organization | ||
Short name of the ministry (establishment) | МНВО РК | |
Full name of the service recipient | ||
Некоммерческое акционерное общество "Евразийский Национальный университет имени Л.Н. Гумилева" | ||
Abbreviated name of the service recipient | НАО "ЕНУ им.Л.Н.Гумилева" | |
Abstract | ||
являются трековые темплэйты a-SiO2/Si с осажденными полупроводниковыми нанокристаллами. a-SiO2/Si шалаөткізгішті нанокристалдары тұндырылған a-SiO2/Si тректі темплэйттер. Цель работы на данном этапе заключалась в синтезе нанокристаллов базирующихся на ZnSe, CdTe, CdSe в трековом темплэйте а-SiO2/Si и исследовании свойств. Осы кезеңдегі жұмыстың мақсаты ZnSe, CdTe, CdSe негізінде нанокристаллдарды а-SiO2/Si тректі темплэйттерде синтездеу және қасиеттерін зерттеу болып табылады. сканирующая электрон-ная микроскопия, рентгеноструктурный анализ, измерение ВАХ, фотолюминесценция. сканерлеуші электрондық микроскопия, рентгендік құрылымдық талдау, ВАС өлшеу, фотолюминесценция. 1)Для двух типов электролитов ЭХО, получены CdTe(NCs)/SiO2/Si-n с WS монофазой. ХО в сульфатном растворе получены CdO(NCs)/SiO2/Si-n c ZBS. Сравнение результатов осаждения позволяет предположить влияние электрического поля на структуру нанокристаллов. ЭХО и ХО на р-типа кремниевой подложки неприводит к осаждению в нанопоры. 2)Впервые получена монофазная WZ структура CdO при достаточно низкой температуре 343K, простым ХО в трековый темплэйт. 3)Исследование ВАХ CdO(NCs)/SiO2/Si позволило оценить количество межзёрен-ных границ ⁓1522 и высоту межзёренного барьера в 1.05эВ, проводимость -n-типа. 4)Установлено, что при ЭХО формируются нанокристаллы оксидного соединенияна основе ZnSe, диселенат цинка ZnSe2O5(NCs)/SiO2/Si. Исследования показали, что он полупроводник n-типа. При ХО получено снижение включения кислорода в структуру нанокритсаллов и образуется диселенит цинка - ZnSeO3(NCs)/SiO2/Si, Si – n и p-типа. Повышение температуры раствора ХО, приводит к полному вытеснению кислорода из структуры нанокристаллов и формируется ZnSe(NCs)/SiO2/Si, Si -n и p-типа на поверхности темплэйта. 5)С помощью программы CRYSTAL рассчитана зонная структура плотность электронных состояний CdTe. Кристалл является прямозонным с наименьшим значением запрещенной зоны в Г-точке. 6)Получен патент РК №3418 от 21.08.2020 «Способ получения нанокристаллов ZnO в двух кристаллических структурах методом электрохимического осаждения в трековые темплэйты a-SiO2/Si-n». Опубликованы три статьи в журналах Q1, Q2. 1)Электролиттердің екі түрі үшін ЭХТ арқылы WS монофазалы CdTe (NCs)/SiO2/Si-n алынды. ХТ арқылы сульфат ерітіндісінен ZBS құрылымындағы CdO(NCs)/SiO2/Si–n алынды. Тұндыру нәтижелерін салыстыру электр өрісінің нанокристалдар құрылымына әсері анықталды. ЭХТ және ХТ-да р-типті кремний пластиналарындағы нанокеуектер тұнбайтыны байқалды. 2)Алғаш рет WZ монофазалық құрылымды CdO 343 К төмен температурада тректі темплэйті қарапайым XТ арқылы алынды. 3)CdO (NCs)/SiO2/Si ВАС зерттеуде түйіршікаралық шекаралар саны ⁓1522 және түйіршікаралық шекаралар биіктігі 1.05эВ, өткізгіштікті n-типті екендігін бағалауға мүмкіндік берді. 4)ЭХТ-да ZnSe оксиді қосылысының нанокристалдары, ZnSe2O5(NCs)/SiO2/Si мырыш диселенаты түзілуі анықталды. Зерттеулер n-типті жартылай өткізгіш екенін көрсетті. XТ-да нанокристалдар құрамында оттегінің азаюы, ZnSeO3 (NCs)/SiO2/Si диселенит мырышы қалыптасатыны анықталды. Si –n және p-типті. XТ ерітіндінің температурасының жоғарылауы нанокристалдар құрылымынан оттегінің толық ығыстырылуына, ZnSe (NCs)/SiO2/Si мырыш диселениді түзілуіне алып келеді, Si –n және p-типті. 5)CRYSTAL бағдарламасында CdTe электронды күйлерінің жолақ құрылымының тығыздығы есептелді. Кристалл Г-нүктесінде тыйым салынған аймақтың ең кіші мәніне ие тура аймақты кристал болып табылады. 6) №3418«a-SiO2/Si-n тректі темплэйттерін электрхимиялық тұндыру әдісімен екі кристалдық құрылымды ZnO нанокристалдарды алу жолдары» 21.08.2020 ж. патенті алынды. Q1, Q2 журналдарда үш мақала жарық көрді. новые наноматериалы. жаңа наноматериалдар. внедрено. енгізілді.
для сенсорных устройств, систем опто- и нано-электроники. сенсорлық құрылғылар, опто және наноэлектрондық жүйелер. |
||
UDC indices | ||
539.534.9 | ||
International classifier codes | ||
29.19.25; 29.19.22; 29.19.31; | ||
Readiness of the development for implementation | ||
Key words in Russian | ||
Быстрые тяжелые ионы; нанокристалл; трековый темплэйт а-SiO2/Si; электрохимическое осаждение; химическое осаждение; | ||
Key words in Kazakh | ||
Жылдам ауыр иондар; нанокристалл; а-SiO2/Si тректі темплэйт; электрхимиялық тұндыру; химиялық тұндыру; | ||
Head of the organization | Сыдыков Ерлан Батташевич | доктор исторических наук / Профессор |
Head of work | Даулетбекова Алма Кабдиновна | Кандидат физико-математических наук, PhD / профессор |
Native executive in charge | Гиниятова Шолпан Гиниятовна | ассоцированный профессор (доцент) |