Inventory number | IRN | Number of state registration |
---|---|---|
0220РК00550 | AP05132854-OT-20 | 0118РК00200 |
Document type | Terms of distribution | Availability of implementation |
Заключительный | Gratis | Number of implementation: 0 Not implemented |
Publications | ||
Native publications: 2 | ||
International publications: 4 | Publications Web of science: 0 | Publications Scopus: 4 |
Number of books | Appendicies | Sources |
1 | 2 | 33 |
Total number of pages | Patents | Illustrations |
57 | 1 | 26 |
Amount of funding | Code of the program | Table |
7077000 | AP05132854 | 0 |
Name of work | ||
Взаимосвязь нелинейных электрических, оптических и фрактально-геометрических характеристик наноструктурированных полупроводников | ||
Report title | ||
Type of work | Source of funding | The product offerred for implementation |
Fundamental | Метод, способ | |
Report authors | ||
Жанабаев Зейнулла Жанабаевич , Икрамова Салтанат Бауыржанқызы , Шабдан Еркін , Манаков Сергей Михайлович , Диханбаев Кадыржан Кенжеевич , Толепов Жандос Каирмаганбетович , Сагидолда Ерулан , Мақсұтова Алуа Арланкызы , Досмайлов Мейржан , Бондарев Александр Иванович , Тілеу Аян Оразбайұлы , | ||
0
0
0
0
|
||
Customer | МНВО РК | |
Information on the executing organization | ||
Short name of the ministry (establishment) | МНВО РК | |
Full name of the service recipient | ||
Дочернее Государственное предприятие на праве хозяйственного ведения "Национальная Нанотехнологическая Лаборатория Открытого Типа" Республиканского Государственного Предприятия на праве хозяйственного ведения "Казахский Национальный университет им. Аль-Фараби" | ||
Abbreviated name of the service recipient | ДГП на ПХВ "ННЛОТ" РГП на ПХВ "КазНу им. аль-Фараби МОН РК" | |
Abstract | ||
полупроводниковые пористые пленки Si с фрактальной структурой фракталды құрылымға ие наноқұрылымды шалаөткізгіштік кеуекті қабыршақтар. проведение комплексных экспериментальных и теоретических исследований электрических, оптических и фрактально-геометрических характеристик нанокластерных полупроводниковых пленок, определяющих условия повышения эффективности устройств наноэлектроники, фотоники фотоника және наноэлектроника құрылғыларының тиімділігін арттыратын шарттарды анықтайтын нанокластерлі шалаөткізгішті қабыршақтардың электрлік, оптикалық және фракталдық-геометриялық сипаттамаларының өзара байланысын анықтау үшін кешенді теориялық және тәжірибелік зерттеулер жүргізу. Электрохимическое травление, атомно силовая, сканирующая электронная микроскопия, спектрофотометр SHIMADZU-UV-3600, программная среда Matlab. Электрохимиялық жеміру, атомды күштік, скандаушы электронды микроскоптар, SHIMADZU-UV-3600 спектрофотометрі, Matlab программалық ортасы. Новизна работы заключается в теоретическом и экспериментальном определении параметров нанокластерных полупроводниковых пленок с масштабно-инвариантной структурой для улучшения устройств наноэлектроники и фотоники. Жұмыстың жаңалығы наноэлектроника және фотоника құрылғыларының тиімділігін жетілдіру үшін масштабты-инвариантты құрылымы бар нанокластерлік шалаөткізгіш қабықшаның параметрлерін теориялық және эксперименттік тұрғыдан анықтауға негізделген. Новые теоретические положения, описывающие связь пористости с фрактальной размерностью нанокластерных полупроводников, особенности их электрических и оптических свойств; методика проведения информационно-энтропийного комплексного анализа изображений структуры поверхностей пленок и их боковых сколов; набор параметров нанопористой пленки, обеспечивающий ее оптимальные электрические и оптические свойства; методика и технология получения пленок с оптимальными электрическими и оптическими свойствами; рекомендации по оптимизации параметров приборов оптоэлектроники, фотоники и сенсорики на наноструктурированных пористых пленках. Шалаөткізгіштің нанокластерлік құрылымын сипаттайтын жаңа теориялық ұсыныстар, нанокеуекті шалаөткізгіш қабыршақтың электрлік және оптикалық қасиеттерін, олардың фракталдық құрылымы көрінісі негізінде нанокеуекті шалаөткізгіш қабыршақты сипаттайтын жаңа теңдеулер; қабыршақтардың бүйір қыры мен бетінің құрылымының суреттеріне кешенді талдау жүргізудің информация – энтропиялық әдістемесі; ұтымды электрлік және оптикалық қасиеттерін қамтамасыз ететін нанокеуекті қабыршақтардың параметрлер жиыны; қабыршақтардың тиімді электрлік және оптикалық қасиеттерін алу әдістемесі; наноқұрылымданған кеуекті қабыршақтар негізінде оптоэлектроника, фотоника және сенсорика құрылғыларының параметрлерін оңтайландыру Опубликованы научные статьи в рецензируемые издания, доложены на международных конференциях, получен 1 патент РК, издана 1 монография. Рецензияланатын басылымдарда ғылыми мақалалар жарық көрді, халықаралық конферецнияларда баяндалды, 1 патент алынды, 1 монография жарыққа шықты. Результаты экспериментальных и теоретических работы могут быть использованы для существенного (до 35 % по сравнению с значением КПД гладкого, непористого элемента) повышения эффективности солнечных элементов. Эксперименттік және теориялық жұмыстардың нәтижелерін күн элементтерінің тиімділігін айтарлықтай арттыру үшін қолдануға болады (тегіс, кеуекті емес элементтің тиімділік мәнімен салыстырғанда 35% дейін). Область применения: разработка рекомендаций по оптимизации характеристик устройств оптоэлектроники и сенсорики. оптикалық және сенсорлық құрылғылардың сипаттамаларын оңтайландыру бойынша ұсыныстар әзірлеу |
||
UDC indices | ||
538.97; 539.216.1; 539.216.2; 539.23 | ||
International classifier codes | ||
29.19.22; 29.19.16; | ||
Readiness of the development for implementation | ||
Key words in Russian | ||
КРЕМНИЙ; ПОРИСТОСТЬ; ФРАКТАЛЬНАЯ РАЗМЕРНОСТЬ; ВОЛЬТ-АМПЕРНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА; ОПТИЧЕСКИЕ СПЕКТРЫ; | ||
Key words in Kazakh | ||
КРЕМНИЙ; КЕУЕКТІЛІК; ФРАКТАЛДЫҚ ӨЛШЕМДІЛІК; ВОЛЬТ-АМПЕРЛІК СИПАТТАМА; ОПТИКАЛЫҚ СПЕКТРЛЕР; | ||
Head of the organization | Муратов М. М. | Phd / |
Head of work | Жанабаев Зейнулла Жанабаевич | Доктор физико-математических наук / Профессор |
Native executive in charge |