Inventory number IRN Number of state registration
0220РК00550 AP05132854-OT-20 0118РК00200
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Заключительный Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 2
International publications: 4 Publications Web of science: 0 Publications Scopus: 4
Number of books Appendicies Sources
1 2 33
Total number of pages Patents Illustrations
57 1 26
Amount of funding Code of the program Table
7077000 AP05132854 0
Name of work
Взаимосвязь нелинейных электрических, оптических и фрактально-геометрических характеристик наноструктурированных полупроводников
Report title
Type of work Source of funding The product offerred for implementation
Fundamental Метод, способ
Report authors
Жанабаев Зейнулла Жанабаевич , Икрамова Салтанат Бауыржанқызы , Шабдан Еркін , Манаков Сергей Михайлович , Диханбаев Кадыржан Кенжеевич , Толепов Жандос Каирмаганбетович , Сагидолда Ерулан , Мақсұтова Алуа Арланкызы , Досмайлов Мейржан , Бондарев Александр Иванович , Тілеу Аян Оразбайұлы ,
0
0
0
0
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МНВО РК
Full name of the service recipient
Дочернее Государственное предприятие на праве хозяйственного ведения "Национальная Нанотехнологическая Лаборатория Открытого Типа" Республиканского Государственного Предприятия на праве хозяйственного ведения "Казахский Национальный университет им. Аль-Фараби"
Abbreviated name of the service recipient ДГП на ПХВ "ННЛОТ" РГП на ПХВ "КазНу им. аль-Фараби МОН РК"
Abstract

полупроводниковые пористые пленки Si с фрактальной структурой

фракталды құрылымға ие наноқұрылымды шалаөткізгіштік кеуекті қабыршақтар.

проведение комплексных экспериментальных и теоретических исследований электрических, оптических и фрактально-геометрических характеристик нанокластерных полупроводниковых пленок, определяющих условия повышения эффективности устройств наноэлектроники, фотоники

фотоника және наноэлектроника құрылғыларының тиімділігін арттыратын шарттарды анықтайтын нанокластерлі шалаөткізгішті қабыршақтардың электрлік, оптикалық және фракталдық-геометриялық сипаттамаларының өзара байланысын анықтау үшін кешенді теориялық және тәжірибелік зерттеулер жүргізу.

Электрохимическое травление, атомно силовая, сканирующая электронная микроскопия, спектрофотометр SHIMADZU-UV-3600, программная среда Matlab.

Электрохимиялық жеміру, атомды күштік, скандаушы электронды микроскоптар, SHIMADZU-UV-3600 спектрофотометрі, Matlab программалық ортасы.

Новизна работы заключается в теоретическом и экспериментальном определении параметров нанокластерных полупроводниковых пленок с масштабно-инвариантной структурой для улучшения устройств наноэлектроники и фотоники.

Жұмыстың жаңалығы наноэлектроника және фотоника құрылғыларының тиімділігін жетілдіру үшін масштабты-инвариантты құрылымы бар нанокластерлік шалаөткізгіш қабықшаның параметрлерін теориялық және эксперименттік тұрғыдан анықтауға негізделген.

Новые теоретические положения, описывающие связь пористости с фрактальной размерностью нанокластерных полупроводников, особенности их электрических и оптических свойств; методика проведения информационно-энтропийного комплексного анализа изображений структуры поверхностей пленок и их боковых сколов; набор параметров нанопористой пленки, обеспечивающий ее оптимальные электрические и оптические свойства; методика и технология получения пленок с оптимальными электрическими и оптическими свойствами; рекомендации по оптимизации параметров приборов оптоэлектроники, фотоники и сенсорики на наноструктурированных пористых пленках.

Шалаөткізгіштің нанокластерлік құрылымын сипаттайтын жаңа теориялық ұсыныстар, нанокеуекті шалаөткізгіш қабыршақтың электрлік және оптикалық қасиеттерін, олардың фракталдық құрылымы көрінісі негізінде нанокеуекті шалаөткізгіш қабыршақты сипаттайтын жаңа теңдеулер; қабыршақтардың бүйір қыры мен бетінің құрылымының суреттеріне кешенді талдау жүргізудің информация – энтропиялық әдістемесі; ұтымды электрлік және оптикалық қасиеттерін қамтамасыз ететін нанокеуекті қабыршақтардың параметрлер жиыны; қабыршақтардың тиімді электрлік және оптикалық қасиеттерін алу әдістемесі; наноқұрылымданған кеуекті қабыршақтар негізінде оптоэлектроника, фотоника және сенсорика құрылғыларының параметрлерін оңтайландыру

Опубликованы научные статьи в рецензируемые издания, доложены на международных конференциях, получен 1 патент РК, издана 1 монография.

Рецензияланатын басылымдарда ғылыми мақалалар жарық көрді, халықаралық конферецнияларда баяндалды, 1 патент алынды, 1 монография жарыққа шықты.

Результаты экспериментальных и теоретических работы могут быть использованы для существенного (до 35 % по сравнению с значением КПД гладкого, непористого элемента) повышения эффективности солнечных элементов.

Эксперименттік және теориялық жұмыстардың нәтижелерін күн элементтерінің тиімділігін айтарлықтай арттыру үшін қолдануға болады (тегіс, кеуекті емес элементтің тиімділік мәнімен салыстырғанда 35% дейін).

Область применения: разработка рекомендаций по оптимизации характеристик устройств оптоэлектроники и сенсорики.

оптикалық және сенсорлық құрылғылардың сипаттамаларын оңтайландыру бойынша ұсыныстар әзірлеу

UDC indices
538.97; 539.216.1; 539.216.2; 539.23
International classifier codes
29.19.22; 29.19.16;
Readiness of the development for implementation
Key words in Russian
КРЕМНИЙ; ПОРИСТОСТЬ; ФРАКТАЛЬНАЯ РАЗМЕРНОСТЬ; ВОЛЬТ-АМПЕРНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА; ОПТИЧЕСКИЕ СПЕКТРЫ;
Key words in Kazakh
КРЕМНИЙ; КЕУЕКТІЛІК; ФРАКТАЛДЫҚ ӨЛШЕМДІЛІК; ВОЛЬТ-АМПЕРЛІК СИПАТТАМА; ОПТИКАЛЫҚ СПЕКТРЛЕР;
Head of the organization Муратов М. М. Phd /
Head of work Жанабаев Зейнулла Жанабаевич Доктор физико-математических наук / Профессор
Native executive in charge