Inventory number IRN Number of state registration
0325РК01817 AP26103225-KC-25 0125РК00576
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Краткие сведения Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 0
International publications: 0 Publications Web of science: 0 Publications Scopus: 0
Patents Amount of funding Code of the program
0 35494060 AP26103225
Name of work
Получение и комплексное исследование фазопеременных тонких пленок селенидов индия перспективных для нанофотоники и оптоэлектроники
Type of work Source of funding Report authors
Fundamental Мухаметкаримов Ержан Советбекович
0
1
2
0
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МНВО РК
Full name of the service recipient
Некоммерческое акционерное общество "Казахский национальный университет имени аль-Фараби"
Abbreviated name of the service recipient НАО "КазНУ им. аль-Фараби"
Abstract

Тонкие пленки фазопеременного селенида индия, двумерные кристаллы селенидов индия

Фазалық ауыспалы индий селенидінің жұқа қабықшалары, индий селенидтерінің екі өлшемді кристалдары

Получение фазопеременных тонких пленок селенидов индия и комплексное исследование трансформации их структуры, оптических, электрических и фотоэлектрических свойств для оценки практической значимости в нанофотонике и оптоэлектронике.

Нанофотоника мен оптоэлектроникадағы практикалық маңызын бағалау үшін индий селенидтерінің фазалық өзгеретін жұқа қабықшаларын дайындау және олардың құрылымының, оптикалық, электрлік және фотоэлектрлік қасиеттерінің түрленуін жан-жақты зерттеу

Структура и состав полученных слоистых кристаллов и тонких пленок были оценены набором методов: рентгеноструктурным анализом (XRD), Рамановской спектроскопией для анализа структуры и энерго-дисперсионным анализом для определения состава

Алынған қабатты кристалдар мен қабықшалардың құрылымы мен құрамы келесі әдістер жиынтығы арқылы бағаланды: құрылымды талдау үшін рентгенқұрылымдық талдау (XRD) және Раман спектроскопиясы, ал құрамды анықтау үшін энерго-дисперсиялық талдау.

Были синтезированы слоистые кристаллы InSe и In₂Se₃ и получены аморфные тонкие плёнки с требуемой стехиометрией. Исследованы особенности их кристаллизации, температурная зависимость сопротивления, структура и состав плёнок до и после термической обработки с помощью XRD, Рамановской спектроскопии и ЭДС. Выявлены оптимальные условия отжига для получения однородных плёнок и характерные переходы сопротивления, что демонстрирует возможность их применения в элементах фазовой памяти. Новизна работы заключается в определении условий формирования однородных плёнок и исследовании многопараметрической зависимости их физических свойств от состава, толщины и термической обработки.

InSe және In₂Se₃ қабатты кристалдары синтезделіп, қажетті стехиометрияға ие аморфты жұқа қабықшалар алынды. Олардың кристалдану ерекшеліктері, кедергісінің температураға тәуелділігі, қабықшалардың құрылымы мен құрамы термиялық өңдеуге дейін және кейін XRD, Раман спектроскопиясы және ЭДС әдістерімен зерттелді. Біртекті қабықшаларды алу үшін оптималды жасыту шарттары және кедергінің сипаттамалық ауысулары анықталды, бұл олардың фазалық жады элементтері ретінде қолданылу мүмкіндігін көрсетеді. Жұмыстың жаңалығы — біртекті қабықшаларды қалыптастыру шарттарын анықтау және олардың физикалық қасиеттерінің құрамына, қалыңдығына және термиялық өңдеуге байланысты көппараметрлік тәуелділігін зерттеумен байланысты.

Синтезированные тонкие плёнки продемонстрировали резкое изменение сопротивления при определённой температуре, что делает их весьма перспективными для использования в ячейках памяти с фазовым переходом. Все характеристики указывают на технологическую реализуемость и высокий потенциал использования этих плёнок в устройствах памяти. Основные характеристики пленок: Диапазон толщин плёнок 50–300 нм, Температура кристаллизации: -InSe: 140–180 °C (в зависимости от толщины) -In₂Se₃: двухступенчатый переход в диапазоне 220–315 °C Оптимальная температура отжига для получения однородных плёнок InSe: 335 ± 5 °C.

Синтезделген жұқа қабықшалар кедергінің белгілі бір температурада күрт өзгеруін көрсеткендіктен,фазалық ауысуға негізделген жады ұяшықтарында қолдану үшін өте перспективті екенін дәлелдеді. Барлық сипаттамалар бұл қабықшаларды жады құрылғыларында пайдаланудың технологиялық мүмкіндігі мен жоғары әлеуетін көрсетеді. Қабықшалардың негізгі сипаттамалары: Қабықшалар қалыңдығының диапазоны: 50–300 нм Кристалдану температурасы: - InSe: 140–180 °C (қалыңдығына байланысты) - In₂Se₃: 220–315 °C диапазонындағы екі сатылы ауысу Біртекті InSe қабықщаларын алу үшін оңтайлы жасыту температурасы: 335 ± 5 °C

не внедрено

енгізілмеген

Применяемая технология является масштабируемой и совместимой с существующими технологическими процессами.

Қолданылатын технология масштабталатын және қолданыстағы технологиялық процестермен үйлесімді.

Особенность фазовой перестройки тонких пленок селенидов индия делают их привлекательными в области разработки продвинутых активных (программируемых) фотонных и электронных устройств для фотонной или электронной записи информации.

Индий селенидінің жұқа қабықшаларының фазалық түрлену ерекшелігі оларды фотондық немесе электрондық ақпаратты жазуға арналған жетілдірілген белсенді (бағдарланатын) фотондық және электрондық құрылғыларды әзірлеу саласында тартымды етеді.

UDC indices
538.91
International classifier codes
29.19.22; 29.19.19;
Key words in Russian
халькогенидные тонкие пленки; термическое испарение; фазовый переход; кристаллизация лазерным лучом; фотонные структуры;
Key words in Kazakh
халькогенидті жұқа қабықшалар; термиялық булану; фазалық ауысу; лазер сәулесі арқылы кристалдану; фотонды құрылымдар;
Head of the organization Ибраимов Маргулан Касенович Phd / доцент
Head of work Мухаметкаримов Ержан Советбекович Доктор философии (PhD) в области наноматериалы и нанотехнологии / ассоциированный профессор