Inventory number | IRN | Number of state registration |
---|---|---|
0224РК01122 | AP14869293-OT-24 | 0122РК00807 |
Document type | Terms of distribution | Availability of implementation |
Заключительный | Gratis | Number of implementation: 0 Not implemented |
Publications | ||
Native publications: 1 | ||
International publications: 1 | Publications Web of science: 1 | Publications Scopus: 1 |
Number of books | Appendicies | Sources |
1 | 3 | 62 |
Total number of pages | Patents | Illustrations |
88 | 0 | 12 |
Amount of funding | Code of the program | Table |
23145101 | AP14869293 | 3 |
Name of work | ||
Исследование влияния аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов на качество фокусировки линзово-зеркальных корректоров аберраций | ||
Report title | ||
Type of work | Source of funding | The product offerred for implementation |
Fundamental | Метод, способ | |
Report authors | ||
Бимурзаев Сеиткерим Бимурзаевич , Саутбеков Сеил Сейтенович , Саутбекова Зерде , Алдияров Нахыпбек Уалиевич , Страутман Лидия , | ||
1
0
1
0
|
||
Customer | МНВО РК | |
Information on the executing organization | ||
Short name of the ministry (establishment) | МЦРОАП РК | |
Full name of the service recipient | ||
Некоммерческое акционерное общество "Алматинский университет энергетики и связи имени Гумарбека Даукеева" | ||
Abbreviated name of the service recipient | НАО АУЭС имени Гумарбека Даукеева | |
Abstract | ||
Объектом исследования являются осесимметричные электростатические зеркала Зерттеу объекті – осьтік симметриялы электростатикалық айналар. Цель проекта - изучение возможностей повышения разрешающей способности электронных микроскопов путем учета и минимизации влияний аберраций высших порядков и релятивистских эффектов на качество фокусировки электронных пучков. Жобаның мақсаты – электрондық сәулелердің фокустау сапасына жоғары ретті аберрациялар мен релятивистік әсерлердің әсерін есепке алу және азайту арқылы электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін арттыру мүмкіндіктерін зерттеу. Метод центральной частицы Орталық бөлшек әдісі 1. разработан метод решения точных уравнений траекторий электронных пучков релятивистских энергий;2. методом Винера-Хопфа получено точное решение задачи о распределении поля в электростатическом зеркале с электродами реальной конструкции;3. разработана компьютерная программа для расчета осесимметричных электростатических зеркал на основе метода центральной частицы; 4. предложена формула, удобная для численного расчета точного значения потенциала на оси зеркала; 5. рассчитано трехэлектродное зеркало, свободное от сферической и осевой хроматической аберраций при учете ширины межэлектродных зазоров и релятивистских эффектов, выполняющее роль безаберрационного зеркального объектива просвечивающего электронного микроскопа; 6. путем теоретических и численных расчетов изучена возможность улучшения качества фокусировки электронных пучков в иммерсионном объективе путем учета сферохроматических аберраций до третьего порядка включительно и статистических закономерностей электронной эмиссии. 1. релятивистік энергиялы электрондық сәулелердің траекторияларының дәл теңдеулерін шешу әдісі әзірленді,2. Винер-Хопф әдісі арқылы жоғары электростатикалық өріс кернеулігіне берік және жоғары вольтты электрондық микроскопияның жоғарылатылған талаптарына сәйкес келетін нақты электродтары бар электростатикалық айнадағы өрістің таралуы анықталды; 3. орталық бөлшектер әдісі негізінде осьтік симметриялы электростатикалық айналарды есептеу үшін компьютерлік бағдарлама әзірленді; 4. айна осі бойындағы потенциалдың нақты мәнін сандық есептеуге ыңғайлы формула ұсынылды; 5. трансмиссиялық электрондық микроскоптың аберрациясыз айналық объектив міндетін атқарушы сфералық және осьтік хроматикалық аберрациялардан бос үш электродты айна есептелді; 6. Теориялық және сандық есептеулер арқылы үшінші ретті сферохроматикалық аберрацияларды және электрондық эмиссияның статистикалық заңдылықтарын ескере отырып, иммерсиялық объективтің фокустау сапасын жақсарту мүмкіндігі зерттелді. повышение разрешающей способности электронных микроскопов электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін көтеру неизвестна белгісіз неизвестна белгісіз электронная микроскопия электрондық микроскопия |
||
UDC indices | ||
537.533.33 | ||
International classifier codes | ||
29.35.39; | ||
Readiness of the development for implementation | ||
Key words in Russian | ||
электронный микроскоп; корректор аберраций; сферическая аберрация; хроматическая аберрация; релятивистский эффект; метод центральной частицы; | ||
Key words in Kazakh | ||
электрондық микроскоп; аберрациялық корректор; сфералық аберрация; хроматикалық аберрация; релятивистік әсер; орталық бөлшек әдісі; | ||
Head of the organization | Саухимов Алмаз Абжалиевич | Доктор философии (PhD) / нет |
Head of work | Бимурзаев Сеиткерим Бимурзаевич | Доктор физико-математических наук / professor, PR №0000119, 22.07.2024 |
Native executive in charge | Саутбеков Сеил Сейтенович | Профессор |