Inventory number IRN Number of state registration
0224РК01122 AP14869293-OT-24 0122РК00807
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Заключительный Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 1
International publications: 1 Publications Web of science: 1 Publications Scopus: 1
Number of books Appendicies Sources
1 3 62
Total number of pages Patents Illustrations
88 0 12
Amount of funding Code of the program Table
23145101 AP14869293 3
Name of work
Исследование влияния аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов на качество фокусировки линзово-зеркальных корректоров аберраций
Report title
Type of work Source of funding The product offerred for implementation
Fundamental Метод, способ
Report authors
Бимурзаев Сеиткерим Бимурзаевич , Саутбеков Сеил Сейтенович , Саутбекова Зерде , Алдияров Нахыпбек Уалиевич , Страутман Лидия ,
1
0
1
0
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МЦРОАП РК
Full name of the service recipient
Некоммерческое акционерное общество "Алматинский университет энергетики и связи имени Гумарбека Даукеева"
Abbreviated name of the service recipient НАО АУЭС имени Гумарбека Даукеева
Abstract

Объектом исследования являются осесимметричные электростатические зеркала

Зерттеу объекті – осьтік симметриялы электростатикалық айналар.

Цель проекта - изучение возможностей повышения разрешающей способности электронных микроскопов путем учета и минимизации влияний аберраций высших порядков и релятивистских эффектов на качество фокусировки электронных пучков.

Жобаның мақсаты – электрондық сәулелердің фокустау сапасына жоғары ретті аберрациялар мен релятивистік әсерлердің әсерін есепке алу және азайту арқылы электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін арттыру мүмкіндіктерін зерттеу.

Метод центральной частицы

Орталық бөлшек әдісі

1. разработан метод решения точных уравнений траекторий электронных пучков релятивистских энергий;2. методом Винера-Хопфа получено точное решение задачи о распределении поля в электростатическом зеркале с электродами реальной конструкции;3. разработана компьютерная программа для расчета осесимметричных электростатических зеркал на основе метода центральной частицы; 4. предложена формула, удобная для численного расчета точного значения потенциала на оси зеркала; 5. рассчитано трехэлектродное зеркало, свободное от сферической и осевой хроматической аберраций при учете ширины межэлектродных зазоров и релятивистских эффектов, выполняющее роль безаберрационного зеркального объектива просвечивающего электронного микроскопа; 6. путем теоретических и численных расчетов изучена возможность улучшения качества фокусировки электронных пучков в иммерсионном объективе путем учета сферохроматических аберраций до третьего порядка включительно и статистических закономерностей электронной эмиссии.

1. релятивистік энергиялы электрондық сәулелердің траекторияларының дәл теңдеулерін шешу әдісі әзірленді,2. Винер-Хопф әдісі арқылы жоғары электростатикалық өріс кернеулігіне берік және жоғары вольтты электрондық микроскопияның жоғарылатылған талаптарына сәйкес келетін нақты электродтары бар электростатикалық айнадағы өрістің таралуы анықталды; 3. орталық бөлшектер әдісі негізінде осьтік симметриялы электростатикалық айналарды есептеу үшін компьютерлік бағдарлама әзірленді; 4. айна осі бойындағы потенциалдың нақты мәнін сандық есептеуге ыңғайлы формула ұсынылды; 5. трансмиссиялық электрондық микроскоптың аберрациясыз айналық объектив міндетін атқарушы сфералық және осьтік хроматикалық аберрациялардан бос үш электродты айна есептелді; 6. Теориялық және сандық есептеулер арқылы үшінші ретті сферохроматикалық аберрацияларды және электрондық эмиссияның статистикалық заңдылықтарын ескере отырып, иммерсиялық объективтің фокустау сапасын жақсарту мүмкіндігі зерттелді.

повышение разрешающей способности электронных микроскопов

электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін көтеру

неизвестна

белгісіз

неизвестна

белгісіз

электронная микроскопия

электрондық микроскопия

UDC indices
537.533.33
International classifier codes
29.35.39;
Readiness of the development for implementation
Key words in Russian
электронный микроскоп; корректор аберраций; сферическая аберрация; хроматическая аберрация; релятивистский эффект; метод центральной частицы;
Key words in Kazakh
электрондық микроскоп; аберрациялық корректор; сфералық аберрация; хроматикалық аберрация; релятивистік әсер; орталық бөлшек әдісі;
Head of the organization Саухимов Алмаз Абжалиевич Доктор философии (PhD) / нет
Head of work Бимурзаев Сеиткерим Бимурзаевич Доктор физико-математических наук / professor, PR №0000119, 22.07.2024
Native executive in charge Саутбеков Сеил Сейтенович Профессор