Inventory number IRN Number of state registration
0224РК01105 AP14972907-OT-24 0122РК00307
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Заключительный Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 1
International publications: 1 Publications Web of science: 0 Publications Scopus: 0
Number of books Appendicies Sources
1 4 67
Total number of pages Patents Illustrations
62 0 25
Amount of funding Code of the program Table
7659632 AP14972907 2
Name of work
Исследование радиационной стойкости тонких пленок оксида галлия
Report title
Type of work Source of funding The product offerred for implementation
Fundamental Материалы
Report authors
Қойшыбаева Жанымгүл Қойшыбайқызы , Акилбеков Абдираш Тасанович ,
0
0
0
0
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МНВО РК
Full name of the service recipient
Некоммерческое акционерное общество "Евразийский Национальный университет имени Л.Н. Гумилева"
Abbreviated name of the service recipient НАО "ЕНУ им.Л.Н.Гумилева"
Abstract

Объект исследования является тонкие пленки оксида галлия (Ga2O3) осажденные методом высокочастотного магнетронного распыления.

Зерттеу объектісі жоғары жиілікті магнетронды шашырату арқылы тұндырылған галий оксидінің (Ga2O3) жұқа қабықшалары болып табылады.

Цель: Экспериментальное исследование структурно-фазового состояния, оптических и электрических свойств и радиационной стойкости тонких пленок на основе моноклинного оксида галлия, осажденных методом магнетронного распыления.

Мақсаты: Магнетронды шашырату арқылы тұндырылған моноклиникалық галлий оксиді негізіндегі жұқа қабықшалардың құрылымдық-фазалық күйін, оптикалық және электрлік қасиеттерін және сәулеленуге төзімділігін эксперименттік зерттеу.

Методы исследования: Тонкие пленки оксида галлия (Ga2O3), осажденные на сапфировые подложки (α-Al2O3), были получены методом высокочастотного магнетронного распыления. Исследовалось структурно-фазовое состояния, оптические (спектры поглащения, фотолюминесценция), электрические и фотоэлектрические свойства, а также радиационная стойкость осажденных пленок Ga2O3. Проанализированы влияния ионизирующего излучения на основные свойства Ga2O3.

Зерттеу әдістері: Жоғары жиілікті магнетронды шашырату арқылы сапфирді негіздерде (α-Al2O3) тұндырылған галий оксидінің (Ga2O3) жұқа қабықшалары алынды. Шөгілген Ga2O3 қабықшаларының құрылымдық-фазалық күйлері, оптикалық (жұтылу спектрлері, фотолюминесценция), электрлік және фотоэлектрлік қасиеттері, сонымен қатар сәулеленуге төзімділігі зерттелді. Иондаушы сәулеленудің Ga2O3 негізгі физикалық қасиеттеріне әсері талданады.

Результаты исследований: В данном проекте разработаны новые широкозонные радиационно-стойкие тонкоплёночные материалы на основе моноклинного оксида галлия (β-Ga2O3), осажденные методом высокочастотного магнетронного распыления. Определены оптимальные условия осаждения, структура и свойства плёнок. Проведено комплекс радиационных испытаний коротко-импульсным и ионным (Kr+) воздействиям при различных флюенсах, которая позволила детально изучить влияние ионизирующего излучения на оптические, электрические и фотоэлектрические свойства, структурно-фазовое состояние и электронную структуру тонких пленок оксида галлия.

Зерттеу нәтижелері: Бұл жобада жоғары жиілікті магнетронды шашырату арқылы тұндырылған моноклиникалық галлий оксиді (β-Ga2O3) негізіндегі кең аралықтағы сәулеге төзімді жаңа жұқа пленкалы материалдар әзірленді. Қабықтардың оңтайлы тұндыру шарттары, құрылымы мен қасиеттері анықталды. Қысқа импульстік және иондық (Kr+) сәулелену сынақтарының жиынтығы әртүрлі флюенцияларда жүргізілді, бұл иондаушы сәулеленудің оптикалық, электрлік және фотоэлектрлік қасиеттеріне, құрылымдық-фазалық күйіне және электрондық құрылымына әсерін егжей-тегжейлі зерттеуге мүмкіндік берді. галий оксидінің жұқа қабықшалары.

Основные конструктивные и технико-эксплуационные показатели: Высокая точность и надежность используемых методов.

Негізгі конструктивтік және техникалық-пайдалану көрсеткіштері: Қолданылатын әдістердің жоғары дәлдігі мен сенімділігі.

Степень внедрения: внедрение не предполагается

Орындалу дәрежесі: іске асыру күтілмейді

Эффективность: Метод высокочастотного магнетронного распыления, отличающийся простотой технологического процесса и высокой производительностью от других методов получения тонких пленок оксида галлия, является одним из наиболее перспективных методов для синтеза тонкоплёночных структур на основе оксида галлия и развития широкого класса электроники на их основе.

Тиімділігі: Технологиялық процестің қарапайымдылығымен және галлий оксидінің жұқа қабықшаларын алудың басқа әдістерінен жоғары өнімділігімен ерекшеленетін жоғары жиілікті магнетронды шашырату әдісі галий оксиді негізінде жұқа қабықшалы құрылымдарды синтездеудің ең перспективалы әдістерінің бірі болып табылады. және олардың негізінде электрониканың кең класының дамуы.

Область применения: Результаты исследований могут быть использованы в фундаментальных и коммерческих исследованиях в области изготовления приборов нового поколения опто- и силовой электроники, например, диодах Шоттки, полевых транзисторах, а также в термометрах Больцмана, ультрафиолетовых солнечно-слепых фотодетекторах и других приложениях.

Қолдану аясы: Зерттеу нәтижелерін оптикалық және күштік электрониканың жаңа буын құрылғыларын, мысалы, Шоттки диодтарын, далалық транзисторларды, сондай-ақ Больцман термометрлерін, ультракүлгін күн сәулелерін өндіру саласындағы іргелі және коммерциялық зерттеулерде пайдалануға болады.

UDC indices
539.2/.6:539./.04
International classifier codes
29.19.21;
Readiness of the development for implementation
Key words in Russian
оксид галлия; радиационное материаловедение; тонкие плёнки; магнетронная распылительная система; ионное облучение;
Key words in Kazakh
галлий оксиді; радиациялық материалтану; жұқа қабықшалар; магнетронды шашырату жүйесі; иондық сәулелену;
Head of the organization Сыдыков Ерлан Батташевич доктор исторических наук / Профессор
Head of work Қойшыбаева Жанымгүл Қойшыбайқызы Доктор PhD / Доктор PhD
Native executive in charge Акилбеков Абдираш Тасанович профессор