Inventory number | IRN | Number of state registration | ||
---|---|---|---|---|
0324РК00577 | AP19174589-KC-24 | 0123РК00086 | ||
Document type | Terms of distribution | Availability of implementation | ||
Краткие сведения | Gratis | Number of implementation: 0 Not implemented |
||
Publications | ||||
Native publications: 0 | ||||
International publications: 1 | Publications Web of science: 1 | Publications Scopus: 1 | ||
Patents | Amount of funding | Code of the program | ||
0 | 7992624 | AP19174589 | ||
Name of work | ||||
Влияние дефектов на атомные и электронные свойства дихалькогенидов переходных металлов на основе платины | ||||
Type of work | Source of funding | Report authors | ||
Fundamental | Жусупбеков Куаныш | |||
0
0
0
0
|
||||
Customer | МНВО РК | |||
Information on the executing organization | ||||
Short name of the ministry (establishment) | МНВО РК | |||
Full name of the service recipient | ||||
НАО "Атырауский университет имени Халела Досмухамедова" | ||||
Abbreviated name of the service recipient | НАО "Атырауский университет имени Х.Досмухамедова" | |||
Abstract | ||||
Объектом исследования являются дихалькогениды переходных металлов на основе платины. Эти материалы обладают уникальными свойствами, которые делают их перспективными для применения в различных отраслях, включая электронику, каталитические материалы и энергетические устройства. Зерттеу нысаны - платина негізінде өтпелі металдардың дихалькогенидтері. Бұл материалдар ерекше қасиеттерге ие болып, электроника, катализаторлық материалдар және энергетикалық құрылғылар салаларында қолдануға үлкен мүмкіндіктер ұсынады. 3. Получить изображения точечных дефектов (квантовых систем) в высоком разрешении в ДПМ на основе Pt при температуре 77 K. 4. Охарактеризовать полученные изображения дефектов в высоком разрешении с помощью моделирования с использованием ТФП. 3. 77 К температура кезінде Pt негізінде ӨМД-де жоғары дәлдікпен нүктелік ақаулардың (кванттық жүйелердің) кескінің алу. 4. ТФТ қолдану арқылы моделдеудің көмегімен жоғары дәлдікпен ақаулардың алынған кескіндерін сипаттау. В исследовании будут применяться методы сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и теории функционала плотности (ТФП) для детального анализа дефектов на атомном уровне. Зерттеу барысында атомдық деңгейдегі ақауларды толық талдау үшін сканерлеуші туннельдік микроскопия (СТМ) және тығыздық функционалы теориясы (ТФТ) әдістері қолданылады. Получены изображения дефектов с высоким разрешением, которые были проанализированы с использованием ТФП. Это позволило установить ключевые параметры, влияющие на электронные свойства материалов. Жоғары дәлдікпен алынған ақаулар кескіндері ТФТ көмегімен талданды. Бұл материалдардың электрондық қасиеттеріне әсер ететін негізгі параметрлерді анықтауға мүмкіндік берді. Предлагаемые материалы обладают высокой проводимостью и стабильностью, что делает их перспективными для применения в электронике и катализаторных процессах. Ұсынылған материалдар жоғары өткізгіштік және тұрақтылық қасиеттеріне ие, бұл оларды электроника мен катализаторлық процестерде қолдануға болашағы зор етеді. Не предупресмотрино Алдын ала ескертілмеген Не предупресмотрино Алдын ала ескертілмеген Материалы могут быть использованы в электронике, энергетике и в качестве катализаторов для химических процессов. Материалдар электроника, энергетика және химиялық процестерде катализатор ретінде қолданылуы мүмкін. |
||||
UDC indices | ||||
3937 | ||||
International classifier codes | ||||
29.19.11; 29.19.00; 29.19.03; 29.19.04; 29.19.24; | ||||
Key words in Russian | ||||
Физика конденсированного состояния; Теория конденсированного состояния; Физика твердого тела; Сканирующая туннельная микроскопия; Теория функционала плотности; 2D материалы; Тонкие пленки и нанотехнологии; Дефекты; Сканирующая Туннельная Спектроскопия; | ||||
Key words in Kazakh | ||||
Конденсацияланған заттар физикасы; Конденсацияланған заттар теориясы; Қатты дене физикасы; Сканерлеуші туннельдік микроскопия; Тығыздықтың функционалдық теориясы; 2D материалдар; Жұқа пленкалар және нанотехнология; Ақаулар; Сканерлеуші Туннельдік Спектроскопия; | ||||
Head of the organization | Идрисов Саламат Нурмуханович | Кандидат педагогических наук, доцент / нет | ||
Head of work | Жусупбеков Куаныш | / PhD |