| Inventory number | IRN | Number of state registration |
|---|---|---|
| 0224РК00127 | AP14972640-OT-24 | 0122РК00521 |
| Document type | Terms of distribution | Availability of implementation |
| Заключительный | Gratis | Number of implementation: 0 Not implemented |
| Publications | ||
| Native publications: 0 | ||
| International publications: 0 | Publications Web of science: 0 | Publications Scopus: 0 |
| Number of books | Appendicies | Sources |
| 1 | 2 | 39 |
| Total number of pages | Patents | Illustrations |
| 34 | 0 | 9 |
| Amount of funding | Code of the program | Table |
| 7998664 | AP14972640 | 0 |
| Name of work | ||
| Исследование влияния ионной модификации на упрочнение приповерхностного слоя SiC керамик – материалов для ядерных реакторов | ||
| Report title | ||
| Type of work | Source of funding | The product offerred for implementation |
| Fundamental | Метод, способ | |
| Report authors | ||
| Тынышбаева Қымбат Мұратжанқызы | ||
|
0
0
0
0
|
||
| Customer | МНВО РК | |
| Information on the executing organization | ||
| Short name of the ministry (establishment) | МНВО РК | |
| Full name of the service recipient | ||
| Некоммерческое акционерное общество "Евразийский Национальный университет имени Л.Н. Гумилева" | ||
| Abbreviated name of the service recipient | НАО "ЕНУ им.Л.Н.Гумилева" | |
| Abstract | ||
|
поликристаллические керамики SiC. SiC поликристалды керамика. Цель проекта заключается в определении и моделировании радиационных повреждений при облучении тяжелыми ионами SiC керамик. Жобаның мақсаты - SiC керамиканың ауыр иондарымен сәулелену кезінде радиациялық зақымдануды анықтау және модельдеу. моделирование, атомно-силовая микроскопия. модельдеу, атомдық күштік микроскопиясы. В ходе проведенных исследований показана перспективность применения модификации приповерхностного слоя керамик SiC низкоэнергетическими ионами Ni-12+ c энергией 20 кэВ/заряд. По результатам испытаний на износ установлено, что имплантация ионов в структуру поверхностного слоя приводит к повышению износостойкости керамики к внешним воздействиям. Установлено, что увеличение флюенса облучения с 10^14 ион/см^2 до 5х10^14 ион/см^2 приводит к увеличению значений прочности на изгиб на 38% и 65% по сравнению с исходным образцом. Жүргізілген зерттеулер барысында төмен энергиялы Ni-12+ иондарымен 20кэВ/заряд энергиясымен SiC керамикаларының беткі қабатына модификацияны қолдану перспективасы көрсетілген. Тозу сынақтарының нәтижелері бойынша иондарды беткі қабаттың құрылымына имплантациялау керамиканың сыртқы әсерлерге төзімділігінің жоғарылауына әкелетіні анықталды. Сәулелену флюенсінің 10^14 ион/см^2-ден 5х10^14 ион/см^2 -ге дейін ұлғаюы бастапқы үлгімен салыстырғанда иілу беріктігі мәндерінің 38% және 65% - ға артуына әкелетіні анықталды. Экономический эффект заключается в получении новых данных об устойчивости материалов, а также определении перспектив их применения в качестве материалов для ядерной энергетики Экономикалық нәтиже материалдардың тұрақтылығы туралы жаңа мәліметтер алу, сондай-ақ оларды ядролық энергетика үшін материалдар ретінде қолдану перспективаларын анықтау болып табылады не предусмотрено. қарастырылмаған. Эффективность проекта заключается в предлагаемой технологии оценки радиационных повреждений Жобаның тиімділігі ұсынылған радиациялық зақымдануды бағалау технологиясында жатыр. ядерная и термоядерная энергетика. ядролық және термоядролық энергетика. |
||
| UDC indices | ||
| 621.039.51; 548.571; 548.4 | ||
| International classifier codes | ||
| 29.15.53; 29.19.11; | ||
| Readiness of the development for implementation | ||
| Key words in Russian | ||
| SiC керамики; радиационные повреждения; гелиевое охрупчивание; структурные разупорядочения; дислокационная плотность; ядерные материалы; | ||
| Key words in Kazakh | ||
| SiC керамикалары; радиациялық зақым; гелийлік морттылық; құрылымдық бұзылулар; дислокациялық тығыздық; ядролық материалдар; | ||
| Head of the organization | Сыдыков Ерлан Батташевич | доктор исторических наук / Профессор |
| Head of work | Тынышбаева Қымбат Мұратжанқызы | Phd / нет |
| Native executive in charge | ||