Inventory number IRN Number of state registration
0323РК00796 AP13268877-KC-23 0122РК00161
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Краткие сведения Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 1
International publications: 3 Publications Web of science: 2 Publications Scopus: 1
Patents Amount of funding Code of the program
1 2653200 AP13268877
Name of work
Разработка технологии изготовления радиационно-стойких электронных компонентов искусственных спутников Земли
Type of work Source of funding Report authors
Fundamental Алмасов Нурлан Жумабекович
0
0
0
0
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) Нет
Full name of the service recipient
Товарищество с ограниченной ответственностью "Astana IT University"
Abbreviated name of the service recipient "Astana IT University"
Abstract

Тонкие пленки халькогенидных стеклообразных полупроводников Ge2Sb2Te5

Ge2Sb2Te5 халькогенидті шыны тәрізді жартылай өткізгіштердің жұқа қабықшалары

Цель проекта разработать технологию изготовления устройств энергонезависимой памяти типа PCRAМ на основе халькогенидного стеклообразного полупроводника Ge2Sb2Te5 посредством выявление зависимостей параметров эффекта переключения в этих материалах от локальной структуры и внешних воздействий, используя компьютерное моделирования в средах DFT и AIMD, а также реализация модели технологически посредством эпитаксиального роста.

Жобаның мақсаты - осы материалдардағы коммутациялық әсердің параметрлерінің жергілікті құрылымға және сыртқы әсерлерге тәуелділігін анықтау арқылы халькогенидті шыны тәрізді жартылай өткізгіш Ge2Sb2Te5 негізінде PCRAM типті тұрақты жады құрылғыларын өндіру технологиясын әзірлеу, DFT және AIMD орталарында компьютерлік модельдеуді қолдану, сонымен қатар эпитаксиалды өсу арқылы модельді технологиялық жүзеге асыру.

Просвечивающая электронная микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, Рамановская спектроскопия

Трансмиссиялық электронды микроскопия, сканерлеуші ​​электрондық микроскопия, атомдық күштік микроскопия, Раман спектроскопиясы

Определены параметры импульсного лазерного осаждения, обеспечивающие рост эпитаксиальных слоев Ge2Sb2Te5

Ge2Sb2Te5 эпитаксиалды қабаттарының өсуін қамтамасыз ететін импульстік лазерлік тұндыру параметрлері анықталды.

Эксимерный KrF-лазер с длиной волны 248 нм с длительностью импульса 20 нс. Энергия импульса составляла 160 мДж. Плотность энергии 0,5-1 Дж/см2. Частота следования импульсов варьировалась от 1 до 100 Гц.

Толқын ұзындығы 248 нм және импульстік ұзақтығы 20 нс эксимер KrF лазері. Импульстің энергиясы 160 мДж болды. Энергия тығыздығы 0,5-1 Дж/см2. Импульстің қайталану жиілігі 1-ден 100 Гц-ке дейін өзгерді.

не внедрено

еңгізілмеген

высокая

жоғары

наноэлектроника

наноэлектроника

UDC indices
538.9
International classifier codes
89.25.43; 20.53.01; 29.35.19;
Key words in Russian
спутник; наноматериалы и нанотехнологии; Халькогенидынй стеклообразный полупроводник; полимер; композит; оптимизация; компьютерное моделирование;
Key words in Kazakh
Жер серігі; наноматериалдар және нанотехнологиялар; халкогенидты шынытәріздес жартылай өткізгіш; полимер; композит; оңтайландыру; компьютерлік модельдеу;
Head of the organization Омирбаев Серик Мауленович д.т.н. / нет
Head of work Алмасов Нурлан Жумабекович PhD / Ведущий научный сотрудник, и.о. доцента