Inventory number IRN Number of state registration
0323РК00163 AP19678955-KC-23 0123РК00280
Document type Terms of distribution Availability of implementation
Краткие сведения Gratis Number of implementation: 0
Not implemented
Publications
Native publications: 0
International publications: 0 Publications Web of science: 0 Publications Scopus: 0
Patents Amount of funding Code of the program
0 27595237.31 AP19678955
Name of work
Сравнительный анализ радиационной стабильности наноразмерных и объемных керамик, облучаемых быстрыми тяжелыми ионами
Type of work Source of funding Report authors
Fundamental Ибраева Анель Динмухамедовна
0
0
1
0
Customer МНВО РК
Information on the executing organization
Short name of the ministry (establishment) МЭ РК
Full name of the service recipient
Республиканское государственное предприятие на праве хозяйственного ведения "Институт ядерной физики" Министерства энергетики Республики Казахстан
Abbreviated name of the service recipient ИЯФ
Abstract

Наноразмерные и объемные диэлектрики (Al2O3, TiO2, Cr2O3, CeO2, ZrO2:Y, Y3Al5O12, Y3Fe5O12, Si3N4).

Наноөлшемді және көлемді диэлектриктер (Al2O3, TiO2, Cr2O3, CeO2, ZrO2:Y, Y3Al5O12, Y3Fe5O12, Si3N4)

Целью проекта является установление закономерностей формирования радиационных повреждений, вызываемых высокоэнергетическими (Е≥1 МэВ/нуклон) тяжелыми ионами в наноразмерных радиационно-стойких керамиках по сравнению с объемными материалами.

Жобаның мақсаты көлемді материалдармен салыстырғанда радиацияға төзімді наноөлшемді керамикадағы жоғары энергиялы (Е≥1 МэВ/нуклон) ауыр иондармен сәулеленуден туындайтын радиациялық зақымданулардың қалыптасу заңдылықтарын анықтау болып табылады.

Методы исследования: просвечивающая и сканирующая электронная микроскопия, Раман-спектроскопия, молекулярная динамика (МД).

Зерттеу әдістері: трансмиссиялық және сканерлеуші электрондық микроскопия, Раман спектроскопиясы, молекулалық динамика (MД).

Для дальнейшего исследования микроструктуры с помощью просвечивающего электронного микроскопа подготовлены нанокристаллические и объемные образцы (Al2O3, TiO2, CeO2, YSZ, Cr2O3, YAG, YIG). Проведено дорадиационное исследование их поверхности и структуры. Проведено облучение тяжелыми ионами высоких энергий (Ar, Kr, Xe, Bi) и их дальнейшее микроструктурное исследование с помощью просвечивающей электронной микроскопии и Раман спектроскопии, поверхность прессованных нанокристаллических порошков была исследована с помощью сканирующего электронного микроскопа. На основе анализа полученных данных изучены особенности морфологии структуры и средний размер кристаллитов исследуемых нанообразцов, облученных тяжелыми ионами высоких энергий и определены значения порогового уровня ионизационных потерь для образования в них латентных аморфных треков и кристаллических дефектов.

Нанокристалды және көлемді үлгілер (Al2O3, TiO2, CeO2, YSZ, Cr2O3, YAG, YIG) трансмиссиялық электронды микроскоптың көмегімен микроқұрылымды әрі қарай зерттеу үшін дайындалды. Олардың беткі қабаты мен құрылымына радиацияға дейінгі зерттеу жұмыстары жүргізілді. Жоғары энергиялы ауыр иондармен (Ar, Kr, Xe, Bi) сәулелену және оларды электронды микроскопия және Раман спектроскопиясы арқылы одан әрі микроқұрылымдық зерттеу жүргізілді, сығымдалған нанокристалды ұнтақтардың беті сканерлеуші электронды микроскоппен зерттелді. Алынған деректерді талдау негізінде ауыр жоғары энергиялы иондармен сәулеленген зерттелетін наноүлгілер кристаллиттерінің құрылымы морфологиясының ерекшеліктері мен орташа мөлшері зерттелді және олардағы жасырын аморфты тректер мен кристалдық ақауларды қалыптастыру үшін ионизациялық шығындарының шекті деңгейінің мәндері анықталды.

Бұл жұмыс тұтастай алғанда реакторларды қолданудың қауіпсіздігі мен тиімділігін арттыруға және соның салдарынан АЭС өндіретін электр энергиясының құнын төмендетуге бағытталған.

Настоящая работа в целом направлена на повышение безопасности и эффективности применения реакторов и, как следствие, к снижению стоимости электроэнергии, вырабатываемой АЭС.

Материаловедение, нанотехнологии, ядерная энергетика.

Материалтану, нанотехнология, ядролық энергетика.

UDC indices
537.9; 539.1.06
International classifier codes
29.19.21; 29.19.22; 29.15.00; 58.09.29;
Key words in Russian
наноразмерные материалы; керамики; интерфейсные слои диэлектриков; радиационные повреждения; быстрые тяжелые ионы; осколки деления; латентные треки; компьютерное моделирование; просвечивающая электронная микроскопия;
Key words in Kazakh
наноөлшемді материалдар; керамикалар; диэлектриктердің интерфейстік қабаттары; радиациялық ақаулар; жылдам ауыр иондар; бөлініс жарықшақтары; жасырын тректер; компьютерлік модельдеу; трансмиссиялық электронды микроскопия;
Head of the organization Сахиев Саябек Куанышбекович Доктор физико-математических наук / нет
Head of work Ибраева Анель Динмухамедовна PhD in Physics / нет