The object of research, development or design (in Russian) : Объекты исследования -Линзово-зеркальные системы, обеспечивающие высокое качество фокусировки при учете аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов и выполняющих роль зеркального объектива электростатического электронного микроскопа или корректора аберраций объектива высоковольтного электронного микроскоп

The object of research, development or design (in Kazakh) : Жоғары ретті аберрацияларды, релятивистік және дифракциялық әсерлерді есепке алғанда жоғары сапалы фокустауды қамтамасыз ететін және электростатикалық электрондық микроскоптың айналық объективі немесе жоғары вольтты электрондық микроскоптың аберрациялық корректоры қызметін атқаратын линза-айналық жүйелер.

Aim of work (in Russian) : Цель проекта - изучение теоретических возможностей дальнейшего повышения разрешающей способности электронных микроскопов путем учета и минимизации совместного влияния аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов на качество фокусировки электронных пучков в линзово-зеркальных корректорах аберраций.

Aim of work (in Kazakh) : Жобаның мақсаты - жоғары ретті аберрациялардың, релятивистік және дифракциялық әсерлердің линза-айналық аберрация корректорларының электрондық сәулелерді фокустау сапасына біріккен әсерін есепке алу және азайту арқылы электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін одан әрі арттырудың теориялық мүмкіндіктерін зерттеу.

Методы исследования (на русском) : Метод центральной частицы, метод Винера-Хопфа, метод параметризации точных уравнений электронных траекторий

Методы исследования (на казахском) : Орталық бөлшек әдісі, Винер-Хопф әдісі, электрондар траекторияларының дәл теңдеулерін параметрлеу әдісі

Obtained results and novelty (in Russian) : Разработано программное обеспечение для расчета качества фокусировки электронных пучков с учетом аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов в линзово-зеркальных системах, включающее алгоритм решения методом Винера-Хопфа задачи о распределении поля в электростатическом зеркале с электродами реальной конструкции, отвечающими повышенным требованиям высоковольтной электронной микроскопии к их электрической прочности при высоких напряженностях электростатического поля. На основе разработанного программного обеспечения рассчитано: 1) электростатическое поле круглого цилиндра с конечной шириной щели; 2).определены геометрические и электрические параметры трехэлектродного электростатического зеркала вращательной симметрии с конечной шириной межэлектродных зазоров, обеспечивающие высокое качество фокусировки при учете аберраций высших порядков, релятивистских и дифракционных эффектов и выполняющих роль зеркального объектива электростатического электронного микроскопа.

Obtained results and novelty (in Kazakh) : Құрамына жоғары вольтты электрондық микроскопияның жоғары кернеулі электростатикалық өрістің электрлік беріктікке қоятын талаптарын қанағаттандыратын нақты электродтары бар электростатикалық айнадағы өрісті Wiener-Hopf әдісін қолданып табу алгоритмі енген және релятивистік және дифракциялық әсерлермен қатар жоғары ретті аберрацияларды ескере отырып линзалық-айна жүйелеріндегі электрондық сәулелерді фокустау сапасын есептеуге арналған бағдарламалық қамтама құрылдыу. Әзірленген бағдарлама негізінде есептелінді: 1).электродаралық саңылау ені шектелген дөңгелек цилиндрдің электростатикалық өрісі; 2) электрондық микроскоптың объектив қызметін атқаратын электродаралық саңылауларының ені шектеулі айналмалы симметриялық үш электродты электростатикалық айнаның жоғары дәрежелі аберрацияларды, релятивистік және дифракциялық әсерлерді ескере отырып жоғары сапалы фокустауды қамтамасыз ететін геометриялық және электрлік параметрлері анықталынды.

The main constructive and technical economic indicators (in Russian) : Реализация теоретических возможностей высокого качества фокусировки в трехэлектродном электростатическом зеркале вращательной симметрии с конечной шириной щели, в котором обеспечена электрическая прочность при высоких напряженностях поля, присущих высоковольтной электронной микроскопии.

The main constructive and technical economic indicators (in Kazakh) : Жоғары вольтты электрондық микроскопияға тән жоғары өріс кернеулігінде электрлік беріктікті қамтамасыз ететін электродтардың нақты конструкциясы бар линза-айналық жүйелерде жоғары сапалы фокустаудың теориялық мүмкіндіктерін жүзеге асыру.

Level of implementation (in Russian) :

Level of implementation (in Kazakh) :

Efficiency (in Russian) : Результаты исследований позволяют значительно повысить разрешающую способность электронных микроскопов

Efficiency (in Kazakh) : Зерттеу нәтижелері электрондық микроскоптардың ажырату қабілетін айтарлықтай арттыруға мүмкіндік береді

Field of application (in Russian) : Научное приборостроение, электронная микроскопия и масс-спектрометрия

Field of application (in Kazakh) : Ғылыми аппаратура, электрондық микроскопия және масс-спектрометрия